par Baillot, Raphaël (1985-....)
ISTE Editions
-
-
Disponible - 621.34 BAI
Niveau 3 - Techniques
Méthodologies d'analyse de la fiabilité de dispositifs à LED
| Auteur(s) : |
Baillot, Raphaël (1985-....)
Découvrir l'auteur
|
Résumé
Le point sur les technologies LED à base de GaN et sur l'identification des phénomènes de dégradation. Les auteurs présentent les outils et les analyses mises en oeuvre dans les études et les applications des dispositifs, ainsi que les mécanismes de défaillance. ©Electre 2017
- Autre(s) auteur(s)
- Éditeur(s)
-
Date
- cop. 2017
-
Notes
- Bibliogr. p. [223]-234
-
Langues
- Français
-
Description matérielle
- 1 vol. (236 p.) : ill., couv. ill. en coul. ; 24 cm
- Collections
- Sujet(s)
-
ISBN
- 9781784052799 ;
- 1784052795
-
Indice
- 621.34 Éclairage électrique, installation électrique
-
Quatrième de couverture
-
Durabilité, robustesse et fiabilité des dispositifs photoniques
Les technologies à base de nitrure de gallium (GaN) sont au coeur du développement de l'éclairage moderne à LED.
Méthodologies d'analyse de la fiabilité de dispositifs à LED traite de l'état de l'art des technologies LED à base de GaN et se focalise principalement sur l'identification des phénomènes de dégradation. Il présente les outils et les analyses mises en oeuvre dans les études et applications de différents dispositifs à LED et offre une revue des différents mécanismes de défaillance utilisant les modèles électro-optiques.
L'identification et la cause de la défaillance sont abordées de manière très précise afin de donner au lecteur une méthodologie d'analyse efficace de dispositifs d'éclairage à LED. Cet ouvrage est donc basé sur des cas réels avec un modèle électrique et optique très fidèle mais relativement abordable.
-
-
Origine de la notice:
- OCoLC ;
- ZWZ ;
- Electre
-
Disponible - 621.34 BAI
Niveau 3 - Techniques
