par Dahoo, Pierre Richard (1957-....)
Iste éditions
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Disponible - 620.37 DAH
Niveau 3 - Techniques
Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. 2 , Systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste
| Auteur(s) : |
Dahoo, Pierre Richard (1957-....)
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Résumé
Présentation des connaissances de base pour les applications industrielles dans le domaine de l'ingénierie quantique et des nanotechnologies. Les auteurs étudient les systèmes optiques pour la mesure à l'échelle nanométrique et les modèles quantiques décrivant l'interaction d'un système à deux niveaux dans son environnement. ©Electre 2021
- Autre(s) auteur(s)
- Éditeur(s)
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Date
- 2021
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Langues
- Français
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Description matérielle
- 1 vol. (232 p.) ; 24 cm
- Collections
- Sujet(s)
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ISBN
- 978-1-78405-794-7
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Indice
- 620.37 Métrologie d'atelier, essais industriels, techniques de contrôle
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Origine de la notice:
- Electre
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Disponible - 620.37 DAH
Niveau 3 - Techniques
